本文是標(biāo)準(zhǔn)的鉭電容測試方法介紹：

1. 適用范圍

本規(guī)范適用于AVX、KEMET等品牌片式固定鉭電容器標(biāo)準(zhǔn)品系列。

2. 參考文獻(xiàn)

EIA Standard 535BAAC-A  Fixed Tantalum Chip Capacitor Style 1 Proteced(molded)

GJB 2283-95 有可靠性指標(biāo)的片式固體電解電容質(zhì)鉭電容器詳細(xì)規(guī)范

GJB 360A-96 電子及電氣元件試驗(yàn)方法

IEC384-3-1 Test Methods for Environmental Testing

3. 詳細(xì)規(guī)格參數(shù)

請參考相應(yīng)鉭電容產(chǎn)品的規(guī)格書

4. 檢驗(yàn)方法和標(biāo)準(zhǔn)

下表所提室溫是指25±5℃，在沒有特別說明的情況下，空氣濕度為45~75%，大氣壓為86~106kPa。

測試項(xiàng)目	測試儀器	測試條件、方法、步驟、判定標(biāo)準(zhǔn)
鉭電容電容值	HP4263B或同等電容測試儀	測試頻率120赫茲，測試電壓0.5V，常溫下旋轉(zhuǎn)2小時(shí)以上，鉭電容電容值在K檔或M范圍內(nèi)
鉭電容損耗角	HP4263B或同等電容測試儀	測試頻率120赫茲，測試電壓0.5V，常溫下旋轉(zhuǎn)2小時(shí)以上，DF上限值請參考相應(yīng)鉭電容產(chǎn)品的規(guī)格書
等效串聯(lián)電阻	HP4263B或同等ESR測試儀	測試頻率100赫茲，ESR值請參考相應(yīng)鉭電容產(chǎn)品的規(guī)格書
漏電流	TH2868或同等漏電流測試儀	1、在室溫下加直流額定電壓，充電時(shí)間最長為5分鐘； 2、電流值隨著時(shí)間下降到某一終值時(shí)達(dá)到較穩(wěn)定狀態(tài)時(shí)，記錄該電流值
浪涌電壓	可調(diào)直流穩(wěn)壓電源	1、測試電壓為額定電壓的1.3倍，充電電流限制5mA以下； 2、進(jìn)行充放電試驗(yàn)1000次（充電30秒，放電5分30秒）常溫下放置2小時(shí)后測試； 3、試驗(yàn)前后電容值變化率在正負(fù)15%以內(nèi)； 4、試驗(yàn)后損耗角值不大于初始標(biāo)準(zhǔn)值 的150%； 5、試驗(yàn)后的產(chǎn)品應(yīng)廢棄，即使電氣參數(shù)完全符合標(biāo)準(zhǔn)值；